高壓陶瓷電容器的可靠性測(cè)試，也叫老化測(cè)試，壽命測(cè)試，包括很多方面的測(cè)試內(nèi)容：

1，耐壓實(shí)驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試；也包括擊穿耐壓，即破壞性測(cè)試，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。

2，串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試；

3，拉力測(cè)試，即引線與芯片焊接的牢固度；

4，正負(fù)溫變化率測(cè)試，即-40度到+60度狀況下，電容的變化率；

5，老化測(cè)試，電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化；

6，壽命測(cè)試，即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上，再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命，注意，這個(gè)壽命的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。

7，局放測(cè)試，即局部放電測(cè)試；

當(dāng)然，在這些測(cè)試過程中，我們可以得出各種參數(shù)，如額定電壓，擊穿電壓，過電流，工作頻率，容量變化率，絕緣電阻，等。每一種電容在研發(fā)與生產(chǎn)配料再次生產(chǎn)時(shí)，都要重新進(jìn)行測(cè)試，才能準(zhǔn)確判斷產(chǎn)品是否合格。